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DX-210二维高斯计
DX-210高斯计测量范围从直流到50KHZ的交流磁场。,最大量程300KG(30T)。它集成了二台高精度高斯计,可配二维探头测试二维空间磁场和二个一维探头分别测试。全菜单操作，5 ¾位读数,极高分辨率1/600000,使您在高磁场测量时能观查到0.0001mT的微弱变化；实现测试,存储,通讯自动化一体机，先进的二维运算方式，使他在材料分析和磁场绘制应用上极具价值。
获取详细规格和报价DX-210二维高斯计
DX-210型二通道高斯计屏幕采用大尺寸的SVGA 7位显示，可以方便地显示所有需要的信息，并可以作出是否显示的选择。所有的选择可以通过面板上的操作按扭来实现。SVGA显示器可以同时或随意选择显示每一个通道的多种不同的测量值：磁场密度，频率，温度，角度，最大值，最小值，日期，时间。该仪器具有矢量叠加功能，可以选配世界上最小尺寸探头（0.25mm）及高低温型（-269 ºC- 200 ºC）探头，变速采集（0-300次/秒）适应高速采集测试。
产品特性：
标配探头：
| 型号 Model | L(cm) approx | D(mm) max | A (mm) | 有源区直径 Active area(mm) | 频率范围Frequency range | 满量程 Full Scale (Standard) | 精度（线性度）Magnetic linearity (%rdg) | 工作温区Operating temp range | 温度系数Temp coefficient(max) | 封装材料Encapsulation material |
| 2ADX801F | 10/25/50 | 4 | 1±0.1 | 0.15 | DC-100kHz | 300kG | ±0.1% ~ 30kG | -10℃ ~ +75℃ | ±0.03%/℃ | 圆形黄铜Circular brass |
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公司: 厦门盈德兴磁电科技有限公司
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软磁材料矫顽力测量装置
DX-2012HC软磁材料矫顽力测量装置主要用于对用形状不规则（规则）的样品快速测量，测试方法可靠。测试原理从从定义出发，参考IEC60404-7的标准，先采用螺线管对开路软磁样品（或器件）进行饱和磁化，再通过磁强计探头靠近霍样品测试样品的杂散磁场。反向施加退磁磁场,当杂散磁场被还原为零时，退磁磁场与材料的矫顽力一致。软磁材料矫顽力测量系统操作简单，测试数据重复性较好，软材料测量包括:纯铁和碳钢、软磁铁氧体、磁性粉末等规则和不规则开路器件的Hc测量，特别适合汽车行业、继电器行业的零部件，测试水平达到国际同行先进水平.
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DX-100霍尔效应测试系统可分为常温，高温，低温，高低温霍尔效应测试系统；用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数；霍尔效应测试系统是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具.
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9000系列振动样品磁强计，是我司自主研发的磁性材料测量系统，国内首套磁矩测量噪音进入10-8emu量级（4 × 10-8 emu noise floor at 10 s/point）的商业VSM。我们对磁性测量设备的引进推广、代理销售和技术服务等方面，有超过20年的经验。我们借鉴了国际上最先进的几种振动样品磁强计的优点，并参考了超导磁体上振动样品磁强计的设计理念，在电磁铁的平台上设计出性能一流、功能均衡和选件丰富的全新一代产品.
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